Eisterer M., Goldacker W., Prikhna T.A., Moshchil V.E., Rindfleisch M., Hellstrom E.E., Li C., Kozyrev A., Shapovalov A.P., Tompsic M., Yang F., Grechnev G.E., Zhang V.S., Romaka V.V.
Eisterer M., Weber H.W., Goldacker W., Prikhna T., Moshchil V., Sverdun V., Kozyrev A., Shapovalov A., Kovylaev V., Shaternik A., Gusev A., Shaternik V., Boutko V., Grechnev G.
Ключевые слова: MgB2, thin films, bulk, pinning, nanoscaled effects, critical caracteristics, Jc/B curves, microstructure, experimental results
Eisterer M., Weber H.W., Sokolovsky V., Goldacker W., Habisreuther T., Prikhna T.A., Moshchil V.E., Sverdun V.B., Schmidt C., Kozyrev A.V., Shapovalov A.P., Kovylaev V.V., Karpets M.V., Shaternik A.V., Grechnev G.E., Boutko V.G., Gusev A.A., Romaka V.V., Shaternik V.E.*10
Eisterer M., Goldacker W., Habisreuther T., Prikhna T., Kozyrev A., Shapovalov A., Boutko V., Grechnev G., Romaka V., Vakaliuk O., Halbedel B.
Moshchil V.E., Sverdun V.B., Kozyrev A.V., Grechnev G.E., Prikhna T.А., Shapovalov A.Р., Boutko V.G., Gusev A.A., Belogolovskiy M.A.
Eisterer M., Weber H.W., Chaud X., Gawalek W., Sokolovsky V., Goldacker W., Habisreuther T., Rabier J., Wu M., Prikhna T., Joulain A., Moshchil V., Kozyrev A., Shapovalov A., Shaternik A., *5Litzkendorf D., Shaternik V., Grechnev G.*10, Boutko V.*11, Gusev A.*11, Barvitskiy P.
Ключевые слова: MgB2, HTS, YBCO, bulk, pinning, trapped field, comparison, fabrication, high pressure processing, microstructure, critical caracteristics, Jc/B curves
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.